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我们知道，光学平台台面，若为达到高平面度，通常需要反复磨削，在加工过程中，多次磨削容易使材料产生形变，为了减少形变，通常要加厚台面，但我们通过振动***时间的说明已经知道，台面加厚质量增加，平台的振动***时间往往成倍（甚至几倍）增加，在很多精密光学实验中，这是不可接受的。 对于平台上的光学元件来说，平面度引起的高度差，通常可以忽略不计，若确有必要考虑高度差，则完全可以通过卓立精密调整的位移台来实现。综上所述，光学平台的平面度，同光学平台的隔振性能不相关，只能做为光学平台的一个辅助指标，供参考。

使用脉冲锤对平台或面包板的表面施加一个已测量的外力，并将一个传感器贴合在平台或面包板表面对合成振动进行测量。

探测器发出的信号通过分析仪进行读取，并用于产生频率响应谱（即柔量曲线）。在光学平台的研发过程中，对平台表面上很多点的柔量曲线进行记录；但是，平台四个角上的柔量往往都是极大的。因此公司发布的柔量曲线和数据都是通过平传感器在台四个角上测得的，因此说明了Z不理想情况下的数据结果。

精密光学平台的机械机构、特点、外形设计与“气垫式精密隔振平台”相同，不同之处仅是未加气垫，该型号的平台为广大用户提供了更多的选择机会。光学平台采用高稳定性橡胶隔振器。隔振平台可以有效地阻隔来自地面的振动，特别适用于台面有运动部件的情况，产品广泛应用在光学、精密计量、精密测量、生物、***、微电子、半导体等各个领域、精密计量、精密测量、生物、***、微电子、半导体等各个领域。